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              產品展示 / products 您的位置:網站首頁 > 產品展示 > 氣候試驗箱 > HAST高壓加速壽命試驗箱
              • HAST高壓加速壽命試驗箱
                HAST高壓加速壽命試驗箱

                HAST高壓加速壽命試驗箱*主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

                時間:2022-11-23廠商性質:生產廠家瀏覽量:610
              • PCT蒸煮壽命試驗箱
                PCT蒸煮壽命試驗箱

                PCT蒸煮壽命試驗箱主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。 PCTZ主要是測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體。

                時間:2022-11-23廠商性質:生產廠家瀏覽量:893
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